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晶片膜厚自動測量及分類機
多種解決方案實現多種材料,多層材料的表面薄膜厚度及微區薄膜厚度的自動測量。
不同波長下干涉譜測量膜厚的配置方案
膜厚干涉原理 白光干涉譜
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中紅外光源 中紅外光譜儀
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