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應用案例
PL熒光光譜測量應用案例
自動晶片激光打標機應用案例
晶片厚度及翹曲度測量設備應用案例
晶片膜厚自動測量及分類機應用案例
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PL譜掃描成像儀
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PL譜掃描成像儀
通過特定波長激光激發指定材料,獲得熒光光譜,對熒光光譜進行采集并后處理呈現熒光各項特征。波長覆蓋紫外到近紅外(200-2500nm),可對2-12寸外延片進行測量。
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北京中拓光電科技有限公司
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